Keithley ha anunciado dos nuevas incorporaciones a su Serie SourceMeter 2600, que constituyen una solución económica para pruebas y análisis paramétricos de semiconductores.
Los modelos 2635 y 3636 representan el único modo de llevar a cabo análisis parámetricos con resoluciones tan finas como 1 fA, lo cual se requiere a menudo para muchos dispositivos semiconductores, optoelectrónicos y nanotecnologÃa en general. Su arquitectura multicanal basada en instrumentos independientes supone un ahorro del 50% del coste tÃpico de un sistema Fuente-Medidor basado en mainframe y módulos. Con su procesador Test Script y el bus de intercomunicación TSP-Link, estos nuevos instrumentos permiten a los ingenieros crear rápidamente sistemas de test indicados para investigación, caracterización, clasificación de wafers, fiabilidad, monitorización en producción y multitud de aplicaciones de test.Â
Estos productos realizan pruebas en DC y pulsantes hasta 200 V / 1.5 A. Trabajan con o sin PC, alcanzando velocidades de test hasta cuatro veces superiores a las velocidades tÃpicas conseguidas con soluciones basadas en mainframes.
Cada modelo incorpora un microprocesador que permite su programación y ejecución tanto de programas (scripts) simples como complejos, incluyendo las funciones de fuente, medida, control de flujo secuencial, cálculos y decisiones sin necesidad de que intervenga el PC. Además, es posible integrarlos fácilmente con otros instrumentos en sistemas automáticos.
