Con un panel frontal desde el cual llevar a cabo cómodamente toda la operativa, este medidor de pérdidas de inserción y retorno también proporciona la capacidad de control remoto mediante una interfaz USB.
La norteamericana OptoTest hace pública la disponibilidad de su nuevo medidor de pérdida OP925, el cual es capaz de cuantificar las pérdidas de inserción (IL, por sus siglas en inglés) y retorno (RL) en las señales.
Esta es una solución de prueba y medición de tamaño compacto, con unas medidas de 21,2×10,2×30,5 cm, pensada para ser portable y satisfacer las necesidades de velocidad y eficiencia en las pruebas en latiguillos de conexión simplex, de los cuales es capaz de realizar tests sobre latiguillos en modo single y en multimodo. Soporta OPM standalone y modos de fuente (source modes) y permite testear todos los conectores simplex estándares (FC, SC, LC, etc) con ángulo y pulido plano.
OptoTest ha dotado al OP925 de un diseño intuitivo en su panel frontal, pensado para facilitar su operativa al usuario en la realización de las pruebas, obteniendo de una forma simple y rápida los valores correspondientes tanto a los resultados relativos (dB), como a los absolutos (dBm).
Las mediciones RL se realizan de forma continuada a través del método de reflectometría continua de onda (OCWR, o bien CW), mientras que las mediciones IL siguen el método de onda continuada estándar.
Una pantalla dos medidas simultáneas
Este medidor de pérdidas de inserción y retorno dispone de una pantalla de fácil lectura, la cual permite a los usuarios ver el valor de la medición de la pérdida de inserción, y su homólogo de retorno, para ambos anchos de banda, eliminando con ello la necesidad de ir alternando entre múltiples pantallas.
Aunque toda la funcionalidad del aparato se encuentra disponible a través de los controles que hallamos en la pantalla del panel frontal, también disponemos de una interfaz USB de alta velocidad mediante la cual podemos llevar a cabo el control remoto vía el SDK (Software Development Kit) de OptoTest.
También ofrece soporte para la realización de pruebas a componentes ópticos con una alta reflectancia, o bien sin rendimiento.
